Microscopía Electrónica de Barrido
El microscopio electrónico JEOL© JSM-IT500 tiene acoplado un detector Bruker© XFlash 6|30 y una fuente de rayos XBruker© Xtrace, combinación con la cual pueden realizarse microanálisis químicos con mayor rapidez que otros microscopios de un modelo inferior, lo cual trae como consecuencia el análisis de un mayor número de muestras por hora de servicio.
Difracción de rayos X
El laboratorio cuenta con un difractómetro Bruker©D8 Advance Eco con el que es posible implementar de manera eficiente la técnica de difracción de rayos X, la cual permite el análisis estructural de materiales cristalinos, incluido el arreglo atómico, el tamaño de los cristales, su orientación preferencial, etc.